高低温试验箱:车规级芯片测试的理想选择
2025-06-14
高低温试验箱:车规级芯片测试的理想选择
在车规级芯片面临极端环境可靠性挑战的背景下,高低温试验箱成为验证其质量与性能的重要设备。本文介绍了贝尔高低温试验箱在车规MCU、传感器、电源管理芯片等测试中的应用价值,解析其温控精度、技术参数及符合AEC-Q标准的可靠性测试能力,是汽车电子芯片研发与量产验证的理想工具。
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