光电半导体芯片解决方案

方案特点

可编程控制

多功能设计

高精度控制系统

坚固的结构设计

安全保护措施

推荐产品

老化测试系统

适用于各类FPD、CMOS、IC与光电相关产品及其他产品、零部件和材料进行高温或其他恶劣环境进行性能可靠性试验；特别适合FPD（STN-LCD、TFT-LCD、COLOR、FILITER、TOUCH PANEL、OLED、PDP）。能帮助用户快速检测产品情况，并能在解决问题提供有效方向，充分提高生产效率和产品质量，可提供整套系统整合。

精密高温老化试验箱

精密高温老化试验箱是针对光电、半导体、芯片、电源模块、传感器、LED 器件等器件进行高温环境老化测试而研发的高可靠性设备。设备具备控温精度高、温场均匀性好、运行稳定等特点，可模拟芯片在高温环境下长时间运行的真实工况，用于评估产品的可靠性与耐久性。广泛应用于半导体制造、科研院校、封测厂、LED封装等行业领域。

三槽式高低温冲击试验箱

三槽式高低温冲击试验箱适用于芯片、半导体封装、光电器件及电子元器件冷热冲击测试，满足可靠性验证需求。

两槽式高低温冲击试验箱

半导体两槽式高低温冲击试验箱适用于芯片、封装器件、COB及光电器件温度冲击测试，用于验证产品耐温度骤变性能。

温湿度振动三综合试验箱

温湿度振动三综合试验箱适用于芯片、半导体封装、光电器件及电子元器件温度、湿度、振动综合环境可靠性测试。

步入式恒温恒湿试验室

步入式恒温恒湿试验室适用于大型光电器件、半导体设备部件、芯片模组及电子产品温湿度环境测试，支持非标定制。

快速温变湿热试验箱

快速温变湿热试验箱适用于芯片、半导体封装、光电器件及电子元器件快速温度变化和湿热环境测试。

老化测试系统

精密高温老化试验箱

三槽式高低温冲击试验箱

两槽式高低温冲击试验箱

温湿度振动三综合试验箱

步入式恒温恒湿试验室

快速温变湿热试验箱

管道送风系统

上出下回

水平送风

天花板送风

客户案例

某光电公司环境检测设备案例

是国内专业致力于光、电连接器技术研发、生产、销售，并全面提供整套连接器应用解决方案的知名企业。采购了一批包含高低温湿热试验箱、恒温试验箱等环境检测设备