环境可靠性事业部
国防军工领域/光电、半导体、芯片领域 | |
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一、产品用途 |
二、参考标准
1.制造标准GB/T10586-2006及GB/T10592-19892.检定标准GB/T5170.2-1996,GB/T5170.5-1996 3.满足试验标准 GB2423.1-2008(IHC68-2-1)试验A:低温试验方法 GB2423.2-2008(IHC68-2-2)试验B:高温试验方法 GB2423.3-2006(IHC68-2-3)试验CA:恒定湿热试验方法 GB2423.4-2008(IHC68-2-30)试验CB;交变湿热试验方法 GB2423.22-2008(IHC68-2-14)试验NB:温度循环试验方法 GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高温试验方法 GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低温试验方法 GJB150.9A-2009(MIL-STD-810D)湿热试验方法
三、性能参数
四、湿度可控范围能力图
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主营产品:恒温恒湿试验箱 高低温试验箱 冷热冲击试验箱 纸箱抗压试验机 跌落试验机 恒温恒湿试验机 纸箱抗压试验机 落试验机 恒温恒湿试验机
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